全反射X射線熒光(TXRF)前處理方式

全反射X射線熒光(TXRF)是一種微量分析(Microanalysis)方法，特別適用於樣品量小的樣品，一次分析所需樣品量，固體材料可達微克級，液體樣品則通常少於100μL。但一般原樣很少能直接上機檢測，多數需要將對樣品進行預處理得到溶液、懸濁液、細粉或薄片等。

通常，固體樣品必須經過研碎或消解等步驟，對於超痕量組分來說，還需要對基體進行分離或破壞。因此，用於其他原子光譜的前處理方法，如AAS或ICP-OES等中所使用的消解、富集、凍幹、萃取、絡合等都可用於TXRF。對於樣品量特別小的樣品，為避免汙染，關鍵步驟還需要在潔淨室內進行。樣品分析流程圖如下：

圖1 TXRF樣品分析流程圖

下表中給出了一些樣品的前處理方法：

意大利GNR公司是一家老牌的歐洲麻豆黄色在线观看生產商，其X射線產品線誕生於1966年，經過半個多世紀的開發和研究，該產品線已經擁有眾多型號滿足多個行業的分析需求。

X射線衍射儀（XRD）可測試粉末、薄膜等樣品的晶體結構等指標，多應用於分子結構分析及金屬相變研究；而全反射X熒光麻豆黄色在线观看（TXRF）的檢測限已達到皮克級別，其非破壞性分析特點應用在痕量元素分析中，涉及環境、醫藥、半導體、核工業、石油化工等行業；為迎合工業市場需求而設計製造的專用殘餘應力国产精品久久久一区麻豆最新章节、殘餘奧氏體国产精品久久久一区麻豆最新章节，近年來被廣泛應用在材料檢測領域，其操作的便捷性頗受行業青睞。